InGaAs摄像机 C15333-10E

检出检查数字

SWIR（短波红外）成像是无损检测的最佳解决方案。它能看到表面之下，根据 SWIR 光谱特征区分材料，为确保产品质量提供了一种安全、便捷的方法。 将 SWIR 成像集成到生产线需要使用 C15333-10E InGaAs 线扫描相机等相机，其 SWIR 灵敏度高、线速率快，是实时在线无损检测的理想之选。 特点 950 纳米至 1700 纳米的 SWIR 灵敏度 1024 像素线性阵列 最大线速率40 kHz 接口采用千兆位以太网 配备高质量图像（背景减影、实时阴影校正） 应用 食品和农产品（损坏检测、质量筛选、材料鉴别等） 半导体（硅晶片图案检测、通过 EL/PL 检测太阳能电池等） 工业（水分含量、泄漏检测、容器检测等） 技术规格 成像设备 - InGaAs 线传感器 有效像素数 - 1024 (H) × 1 (V) 单元尺寸 - 12.5 μm (H) × 12.5 μm (V) 有效面积 - 12.8 毫米（高） × 0.0125 毫米（宽） 读出速度 - 内部模式：40 kHz（21 μs 曝光时间） 同步读出：40 kHz 曝光时间 - 21 μs 至 1 s（步长 1 μs） 外部触发输入 - 同步读出 外部触发信号路由 - 12 针 SMA 或 HIROSE 连接器 图像处理功能 - 背景减影、实时阴影校正 接口 - 千兆位以太网 A/D 转换器 - 14 位 镜头卡口 - C 卡口 电源 - DC 12 V 功耗 - 最大 6 W。 工作环境温度 - 0 ℃ 至 +40 ℃ 储存环境温度 - -10 ℃ 至 +50 ℃