光学显微镜 EHD-T180VA SWIR

数字红外检查

EHD CTR 和 ITR 相机专为满足现代荧光和光学显微镜的高要求而设计。这些相机专为处理微弱或低强度信号的研究人员和专业人员设计，具有卓越的灵敏度，即使在最具挑战性的条件下也能提供清晰的图像。 为确保顺利集成，我们提供了一系列与奥林巴斯、徕卡和蔡司等领先制造商的显微镜兼容的合适视频耦合器。这种灵活性使您能够轻松升级显微镜，确保各种设置的兼容性。 在严格的尺寸和功耗限制下，对紧凑型高性能成像系统的需求推动了 CMOS 传感器技术的发展，从而使数字显微镜技术取得了长足的进步。以 EHD SWIR 显微镜等系统为代表的短波红外 (SWIR) 模块化显微镜，通过将成像范围从传统的可见光谱（400-700 nm）扩展到 900-1700 nm 范围，为工业和科学应用提供了变革性的功能。 SWIR 模块化显微镜缩小了传统光学系统与专业红外成像之间的差距，为下一代材料和电子检测提供了无与伦比的精度。 SWIR 模块化显微镜在以下方面至关重要 1.半导体制造：检测硅晶片和芯片互连中的次表面缺陷。 2.材料科学：识别陶瓷或复合材料中的隐形裂缝。 3.工业检测：在不进行破坏性拆卸的情况下分析部件的次表面结构