X线头影测量机 VistaPano S Ceph

全景X射线系统数字

使用新的VistaPano S Ceph可以实现快速的头颅测量X射线图像，图像质量非常好，而且剂量尽可能低。其原因是行传感器的扫描时间极短--仅4.1秒--大大降低了运动模糊的风险。对于接受正畸治疗的年轻患者来说，低X射线剂量和短扫描时间的结合呈现出相当大的优势。两个高端的CsI传感器--用于全景X射线和Ceph投影--已经集成在该装置中，消除了耗时的传感器切换，从而避免了损坏的风险。所有这些都使VistaPano S Ceph成为正畸手术和颌面手术的理想X射线解决方案。此外，VistaPano S Ceph为您提供VistaPano S的所有功能和优势。 这就是最重要的。 4.1秒内完成非常快速的扫描（头部以下）。 卓越的图像质量 辐射剂量低 无需更换传感器，集成了2个高端CsI传感器 S-Pan技术的比较：图像部分从一系列平行层中自动选择，最符合病人的解剖结构。其结果是一个令人印象深刻的清晰的图像。 技术数据VistaPano S Ceph X射线高压发生器 电压、电流50 - 99 kV，4 - 16 mA 管子 焦点0.5毫米（IEC60336）。 总过滤2.8毫米铝当量。 图像检测器 型号CsI传感器 像素大小100μm 有源传感器尺寸5.9 x 230.4 mm 帧率200 fpS