安道尔的独立USB 2.0 iKon-M SY 934系列具有一个高QE的背照式传感器,用于直接检测X射线。一个方便的铍箔窗口阻挡了可见波长,使X射线能量的 "光束硬化 "最小化,提供了20keV的直接检测能量范围。
5年真空保修
独立的 "Be窗口
多兆赫兹读数
裁剪模式操作
USB 2.0连接
概述
安道尔的独立USB 2.0 iKon-M SY 934系列具有一个高QE、背照式传感器,用于直接检测X射线。一个方便的铍箔窗口可以阻挡可见的波长,使X射线能量的 "光束硬化 "最小化,从而提供了20keV的直接检测能量范围。
这个1024 x 1024的传感器阵列具有13 x 13微米的像素,提供了高动态范围和高空间分辨率。一系列kHz和Multi-MHz读出速度的无缝软件选择分别提供了特别低的读出噪声和更快的帧速率。
特点
UltraVac™ - 5年保修。专有的和经过验证的真空工艺,对持续的真空完整性、传感器保护和无与伦比的冷却至关重要,年复一年。
独立 "铍窗 - 标准为200微米的铍窗
13 x 13 µm像素尺寸 - 动态范围和分辨率的最佳平衡
超低噪音读出 - 智能低噪音电子设备提供了最 "安静 "的系统噪音
多兆赫像素读出 - 可实现高帧率(可视化模式下为5MHz,最高灵敏度和信噪比为50kHz)。
USB 2.0连接--USB即插即用--无需控制器盒
增强的基线钳制 - 动态测量的定量准确性。
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