Andor 的独立式 USB 2.0 iKon-M SY 934 系列具有高 QE、背照式传感器,用于直接检测 X 射线。方便的铍箔窗口可阻挡可见光波长,将 X 射线能量的 "光束硬化 "降到最低,直接检测能量范围为 20keV。
5 年真空保修
独立 "窗口
多兆赫兹读数
裁剪模式操作
USB 2.0 连接
概述
Andor 的独立式 USB 2.0 iKon-M SY 934 系列具有高 QE、背照式传感器,用于直接检测 X 射线。方便的铍箔窗口可阻挡可见光波长,将 X 射线能量的 "光束硬化 "降到最低,直接检测能量范围为 20keV。
这种 1024 x 1024 传感器阵列具有 13 x 13 μm 像素,可提供高动态范围和高空间分辨率。通过软件无缝选择一系列千赫和多兆赫读出速度,可分别提供极低的读出噪声和更快的帧速率。
特点
UltraVac™ - 5 年质保。专有且经过验证的真空工艺,对年复一年的持续真空完整性、传感器保护和无与伦比的冷却至关重要。
独立 "Be 窗口 - 标准配置为 200 µm 铍窗口
13 x 13 µm 像素尺寸 - 动态范围和分辨率的最佳平衡
超低噪声读出 - 智能低噪声电子设备提供最 "安静 "的系统噪声
多兆赫像素读出 - 可实现高帧频(可视化模式下为 5 MHz,最高灵敏度和信噪比模式下为 50 kHz)
USB 2.0 连接 - USB 即插即用 - 无需控制器盒
增强型基线钳--动态测量的定量准确性。
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