EDXRF光谱仪

快速、准确的原位元素分析 借助 XRF 光谱仪 Epsilon 3 系列的经验打造而成，Epsilon 4 是一款多功能台式 XRF 分析仪，广泛用于从研发到流程控制等各个领域中需要从氟 (F) 到镅 (Am) 元素分析的行业细分市场。 Epsilon 4 将激发和检测技术与成熟软件和智能设计相结合，其分析性能更接近于功率更高的落地式 XRF 光谱仪。 对于传统上由 ICP 和 AAS 来实现的复杂应用，这提供了一个简单易行的替代方案。通过将 XRF 光谱仪放置在生产线旁边，尝试进行现场或在线 ...

宽度: 460 mm
高度: 360 mm
重量: 240 kg

... EDX-7200 是 EDX 系列中追求高灵敏度、高速度和高精度的旗舰型号。该型号支持新的消费者和环境合规法规和指令，如 RoHS/ELV、REACH 和 TSCA，并配有全套独家筛选分析套件。 支持多个领域的各种应用 电气/电子材料 RoHS 和卤素屏蔽 半导体、光盘、液晶和太阳能电池的薄膜分析 汽车和机械 ELV 危险元素筛选 机械零件的成分分析、镀层厚度测量和化学转化镀膜重量测量 黑色金属/有色金属 原材料、合金、焊料和贵金属的主要成分分析和杂质分析 炉渣成分分析 化学品 产品和有机/无机原材料分析 催化剂、颜料、涂料、橡胶和塑料分析 ...

JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。 EDS通过检测被电子束激发出的样品特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。 JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统，通过与SEM的马达驱动样品台联动使用，可以进行大范围的观察和分析。EDS通过检测被电子束激发出的样品的特征X射线，确定样品含有的元素及成分比，可以进行微区的点分析、线分析及面分析。 JSM-6510/LA, ...

宽度: 356 mm
高度: 260 mm
重量: 27 kg

... 作为高性能的小（可变）点台式EDXRF元素分析仪，新的Rigaku NEX DE VS提供了广泛的元素覆盖，并有一个易于学习的基于Windows®的QuantEZ软件。小光点分析，从钠（Na）到铀（U），几乎任何基体--从固体、薄膜和合金到粉末、液体、浆液和薄膜。 在现场、工厂或实验室的XRF元素分析 特别为重工业使用而设计，无论是在工厂车间还是在偏远的现场环境，NEX DE卓越的分析能力、灵活性和易用性增加了它在不断扩大的应用范围中的广泛吸引力，包括勘探、研究、批量RoHS检查和教育，以及工业和生产监测应用 ...

长度: 360 mm
宽度: 640 mm
高度: 400 mm

... 对于过程和质量控制来说，每一秒都很重要。从收到样品的那一刻起，就迫切需要测试结果。XRF2501配备了一个简单直观的界面，使您能够装载样品，触摸按钮，并在几秒钟内得到高质量的结果。 与AAS,AFS,ICP和ICP-MS分析技术相比，XRF2501无需对样品进行溶解和消化，也无需使用化学试剂。它的分析速度很快，不会破坏样品。XRF2501可以用来分析样品，无论是固体还是液体，压制还是粉末，大还是小。 广泛的适用性： 适用于固体、液体、粉末和颗粒样品。 操作简单： 不需要进行复杂的样品预处理。用户只需将样品放入测试区，点击开始即可完成分析。 效率高： 单个样品分析时间为1-15分钟（可根据需要调整）。 模块化设计： 根据需要自由组合，适合各种使用场景。 低成本： 不需要化学品和其他消耗品，在真空模式下不消耗氦气。 最佳的分辨率和CR： 采用德国新一代VITUS硅漂移检测器，具有最佳的计数率和能量分辨率。充分利用50W功率光管的输出，确保XRF2501具有高稳定性和高灵敏度。 范围广： 从Na-U的所有元素都可以在从PPM到100%的浓度范围内进行测试。 安全操作： 仪器的测试室采用了三重保护措施，包括厚铜、电子联锁设计和软件中断，绝对保证在任何测试环境下都不会有X射线泄漏。 ...

... ADX9800 是一款功能强大的 EDXRF，内置多个准直器，可用于各种测试参数。真空室可获得高度精确的结果，并能测试从钠 (Na) 到铀 (U) 的各种元素。 硬件 Si-Pin/SDD 探测器 超高分辨率探测器 能量分辨率为 130eV 的电制冷半导体探测器：130eV 能量响应范围1-50 keV Be 窗口厚度：50 μm 用于检测样品的特征 X 射线，然后收集信息并放大。 X 射线管 使用寿命超过 20,000 ...